Leiterkarten – Inspektion AOI / SPI / AXI 

Saki bündelt Ihren vollen Einsatz in die kontinuierliche Weiterentwicklung Ihrer 3D AOI 3D AXI 3D SPI und 2D AOI  Inspektiossysteme und zeigt neue zukunftsweisende Technologien. Mit über 10’000 Systemen Weltweit werden 150 Billionen Teile, Lötstellen auf 15 Millionen Leiterplatten täglich geprüft

2D AOI-Systeme

Die 2D AOI Technologie von Saki

Eine Technologie – Viele Geräte Varianten

Ob kleines Tischgerät oder grosse Inline Maschine, alle 2D AOIs von Saki benützen die selbe Technologie. Damit sind Inspektionsprogramme einfach auf andere Modelle zu übernehmen und Programmierung und Bedienung sind identisch.

3D AOI/SPI Systeme

Saki´s 3D Technologie

Eine Technologie – Zwei Anwendungen
AOI und SPI

Die Inspektion und Auswertung von Leiterkartenoberflächen beruht auf der Vereinigung von 2 unterschiedlichen Systemen. Das eine System besteht aus einer orthogonale Kamera welche mit entsprechenden Beleuchtungen ein 2D Image erfasst. 

X-Ray AXI Systeme

Saki´s AXI Technologie

Eine Technologie ausgerichtet auf Flachbaugruppen

Bilder, erzeugt durch „Röntgen“, gehören heute schon fast zum Alltag. Diese basieren aber meistens auf so genannten CT-Systemen, wo ein Objekt rundum vermessen wird. Für Falchbaugruppen, wie Leiterkarten, sind solche Systeme eher ungeeignet und nicht präzise genug …

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