Leiterkarten – Inspektion AOI / SPI / AXI
Saki bündelt Ihren vollen Einsatz in die kontinuierliche Weiterentwicklung Ihrer 3D AOI 3D AXI 3D SPI und 2D AOI Inspektiossysteme und zeigt neue zukunftsweisende Technologien. Mit über 10’000 Systemen Weltweit werden 150 Billionen Teile, Lötstellen auf 15 Millionen Leiterplatten täglich geprüft
2D AOI-Systeme
Die 2D AOI Technologie von Saki
Eine Technologie – Viele Geräte Varianten
Ob kleines Tischgerät oder grosse Inline Maschine, alle 2D AOIs von Saki benützen die selbe Technologie. Damit sind Inspektionsprogramme einfach auf andere Modelle zu übernehmen und Programmierung und Bedienung sind identisch.
3D AOI/SPI Systeme
Saki´s 3D Technologie
Eine Technologie – Zwei Anwendungen
AOI und SPI
Die Inspektion und Auswertung von Leiterkartenoberflächen beruht auf der Vereinigung von 2 unterschiedlichen Systemen. Das eine System besteht aus einer orthogonale Kamera welche mit entsprechenden Beleuchtungen ein 2D Image erfasst.
X-Ray AXI Systeme
Saki´s AXI Technologie
Eine Technologie ausgerichtet auf Flachbaugruppen
Bilder, erzeugt durch „Röntgen“, gehören heute schon fast zum Alltag. Diese basieren aber meistens auf so genannten CT-Systemen, wo ein Objekt rundum vermessen wird. Für Falchbaugruppen, wie Leiterkarten, sind solche Systeme eher ungeeignet und nicht präzise genug …